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Infraestructura:

  • Microscopio Electrónico de Barrido de Ultra-Alta Resolución JSM-7800F Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope

    JEOL

    Técnicas de caracterización:

    • Imágenes de electrones secundarios.
    • Imágenes de electrones retrodispersados.
    • Imágenes barrido por transmisión de campo claro.
    • Imágenes barrido por transmisión de campo oscuro.
    • Análisis de elementos químicos por rayos X característicos (EDS).
    • Mapeos de elementos químicos por rayos X característicos.
    • Análisis en línea de elementos químicos por rayos X característicos.
  • Sem_7800f_(1)


  • Microscopio Electrónico de Transmisión TEM JEM2010 FEG

    JEOL

    Técnicas de caracterización:

    • Imágenes de alta resolución (HRTEM).
    • Imágenes de campo oscuro por difracción de electrones.
    • Transmisión y barrido de electrones (TEM-STEM).
    • Análisis de elementos químicos por rayos X característicos (EDS).
    • Imagen con resolución atómica por contraste Z (HAADF).
    • Obtención de patrones de difracción de área selecta.
    • Obtención de patrones de nanodifracción (NBD).
    • Obtención de patrones de difracción por haz convergente (CBED).
  • Tem2010f


  • Microscopio Electrónico de Barrido SEM 5600LV

    JEOL

    Técnicas de caracterización:

    • Imágenes de electrones secundarios.
    • Imágenes de electrones retrodispersados.
    • Análisis de elementos químicos por rayos X característicos (EDS).
  • Sem5600lv


  • Microscopio Electrónico de Fuerza Atómica y de Tunelamiento JSPM-4210

    JEOL

    Técnicas de caracterización:

    • Resolución atómica (una imagen de átomos en modo de contacto).
    • Resolución atómica STM (una imagen de átomos en HOPG) 0.05 nm o menos.
    • Modos de medición: AFM modo contacto y AC modo intermitente.
    • Para AFM modo contacto: Imagen topográfica, imagen de fuerzas, FFM, curva de fuerza, curva de fuerza de fricción, etc.
    • Para AC modo intermitente: imagen topográfica, imagen de fase, imagen de amplitud.
  • Afm4210


  • Microscopio Óptico Axiotech 25HD

    ZEISS

    Axiotech es un instrumento que permite la transmisión de luz para la observación de un materia ajustando accesorios que incluyen una lámpara de halógeno de 6 V-30 watts, un colector, un diafragma y un conector y un cable para una fuente de poder externa integrada.

    Este microscopio también permite la observación de luz reflejada en conjunto con una línea completa de objetivos Zeiss.

  • Ptico_zeiss


  • Laboratorio de Preparación de Muestras

    Este laboratorio está enfocado en dar servicio de apoyo para preparación de muestras, de manera particular, para los materiales que serán analizados por cualquiera de las técnicas de microscopia del Laboratorio central. Se cuenta con varias técnicas de preparación (cortadoras, pulidoras, limpiador de plasma, evaporadoras, ultracentrífugas, ultramicrotomo, etc.) y con la experiencia para trabajar muestras en el área de ciencia de materiales. Esta área también apoya en dar servicios a usuarios externos a través principalmente de capacitación para el procesamiento de sus propias muestras.
  • Lpm_lcm


  • Erosionador de iones PIPS II.

    Características:

    • Cuenta con dos cañones de iones de Argón los cuales se pueden mover en X y Y para erosionar la región de interés de la muestra.
    • El haz de iones es colimado y puede trabajar con voltajes tan bajos como 100 voltios para una preparación rápida y sin daños en la fabricación de las laminillas.
    • Contiene un microscopio para monitorear y analizar la erosión del material utilizando el software DigitalMicrograph®.
    • Pantalla táctil a color de 10" para visualización y control de todos los parámetros de PIPS™ II.
  • Pips